掃描鏈（英語：Scan chain）是可測試性設計的一種實現技術。它通過植入移位寄存器，使得測試人員可以從外部控制和觀測電路內部觸發器的信號值。
參考文獻
- Laung-Terng Wang, Cheng-Wen Wu and Xiaoqing Wen. VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability. Morgan Kaufmann. ISBN 978-0123705976.
掃描鏈（英語：Scan chain）是可測試性設計的一種實現技術。它通過植入移位寄存器，使得測試人員可以從外部控制和觀測電路內部觸發器的信號值。